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講座名稱：導納型失磁保護校驗方法探討
報告人：陳壽根高工
報告單位：中廣核工程公司
講座時長：17:48
內(nèi)容簡介：
中廣核工程公司高工陳壽根發(fā)表“導納型失磁保護校驗方法探討”演講。發(fā)電機失磁是指發(fā)電機運行時失去勵磁電流，導納型失磁保護的定值軌跡是4條導納射線和一條直線，在導納平面內(nèi)伸向無窮遠，校驗定值時無法驗證整個導納軌跡。目前的校驗方法是手動驗證失磁保護的幾個動作點，但是動作點是否在導納定值軌跡上沒有驗證。新方法將導納定值轉(zhuǎn)換為阻抗定值，即將導納平面內(nèi)的導納軌跡轉(zhuǎn)換為阻抗平面內(nèi)的阻抗軌跡，再用博電繼保儀自動測出阻抗圓的動作軌跡，也就驗證了整個導納定值軌跡。新方法理論推導嚴密，在多套保護裝置上得到實際驗證。
報告人：陳壽根高工
報告單位：中廣核工程公司
講座時長：17:48
內(nèi)容簡介：
中廣核工程公司高工陳壽根發(fā)表“導納型失磁保護校驗方法探討”演講。發(fā)電機失磁是指發(fā)電機運行時失去勵磁電流，導納型失磁保護的定值軌跡是4條導納射線和一條直線，在導納平面內(nèi)伸向無窮遠，校驗定值時無法驗證整個導納軌跡。目前的校驗方法是手動驗證失磁保護的幾個動作點，但是動作點是否在導納定值軌跡上沒有驗證。新方法將導納定值轉(zhuǎn)換為阻抗定值，即將導納平面內(nèi)的導納軌跡轉(zhuǎn)換為阻抗平面內(nèi)的阻抗軌跡，再用博電繼保儀自動測出阻抗圓的動作軌跡，也就驗證了整個導納定值軌跡。新方法理論推導嚴密，在多套保護裝置上得到實際驗證。
